ЭФФЕКТ ЭКРАНИРОВКИ И НАНО-ДИАГНОСТИКА СТРУКТУРИРОВАННЫХ ВЕЩЕСТВ ТОРМОЗНЫМ ИЗЛУЧЕНИЕМ ЭЛЕКТРОНОВ

Обсуждается возможность диагностики распределения атомных ядер в
веществе с помощью тормозного излучения (ТИ) релятивистских
электронов в этом веществе с учетом экранирования полей ядер электронами среды.
Излагается альтернативный метод расчета спектра ТИ, позволяющих установить своеобразную связь частотно-угловых свойств ТИ для легких и тяжелых элементов. Показывается, что несмотря на резкое падение интенсивности ТИ по сравнению с излучением на "голом" ядре, экранировка не полностью подавляет ТИ, что допускает его использование для структурной диагностики вещества.

Номер документа: 2007-10/831

Авторы: В.К.Гришин

Email: grishin@depni.sinp.msu.ru

Размер файла: 285.18 КБ, последнее обновление 23.11.2012 17:16